GJb 150.3A-2009軍工裝備試驗室高溫環(huán)境試驗主要用來評價在高溫環(huán)境中使用的裝備，用來評價高溫條件對裝備的平安性、完整性和性能的影響。武漢金測實驗室具備Gjb 150.3A-2009標準CNAS檢測資質(zhì)和檢測能力，可提供軍工電子元器件GJb 150.3A高溫試驗、元器件二次篩選服務。湖北第三方GJb 150.3A高低溫試驗檢測機構(gòu)哪家比較好？
 
　　一、GJb150.3A高溫試驗所能引發(fā)的產(chǎn)品故障：
　　1、不同材料膨脹不一致導致零部件相互咬死；
　　2、固定電阻的阻值改變；
　　3、工作壽命縮短；
　　4、高聚物材料褪色、裂解或龜裂紋；
　　5、電子線路穩(wěn)定性發(fā)生改變等。
 
　　二、試驗流程
　　GJb150.3A-2009軍工裝備試驗室高溫環(huán)境試驗包括兩個試驗程序：高溫貯存試驗和高溫工作試驗。
 
　　高溫貯存試驗（循環(huán)貯存、恒定貯存）：主要用來考核貯存期間高溫對裝備的平安性、完整性和性能的影響。
 
　　高溫工作試驗（循環(huán)工作、恒定工作）：主要用來考核裝備工作時高溫對其性能的影響。
 
　　高溫工作有兩種狀態(tài)，一種是連續(xù)工作，一種是等溫度達到穩(wěn)定時工作。
 
　　三、GJb150.3A高溫試驗時間要求：
　　1、高溫貯存試驗：貯存試驗至少進行7個循環(huán)，一個循環(huán)為24小時。
　　2、高溫恒定貯存：試驗時間一般不少于2小時。
　　3、高溫循環(huán)工作試驗：工作暴露試驗至少進行3個循環(huán)，一個循環(huán)為24小時，若難以再現(xiàn)溫度響應時，建議采用7個循環(huán)。
　　4、高溫恒定工作試驗：試驗時間一般不少于2小時。
 
　　四、GJb150.3A高溫試驗檢測結(jié)果判定標準：
　　1、產(chǎn)品的外觀結(jié)構(gòu)應無損壞；
　　2、高溫試驗過程中或試驗后，工作性能是否下降或改變。
 
　　五、參考標準
　　GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗；
　　GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h＋12h循環(huán))；
　　GB/T 2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Cb：設備用恒定濕熱；
　　GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗.第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗；
　　GB/T 2423.50-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗；
　　IEC 60068-2-78-2012 環(huán)境試驗.第2-78部分:試驗.試驗箱:濕熱、穩(wěn)態(tài)；
　　IEC 60068-2-30-2005 環(huán)境試驗.第2-30部分:試驗.試驗Db:循環(huán)濕熱試驗(12h+12h循環(huán))
 
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