電子產(chǎn)品做高低試驗的目的主要是為了考評電子產(chǎn)品在高溫或者低溫的惡劣環(huán)境下，經(jīng)過一定的時間后還能否正常使用。
 
武漢金測低溫試驗是一般是運用恒溫恒濕試驗箱進行試驗的。試驗前先檢查試驗樣品的狀態(tài)，外觀、功能、性能等是否正常，并拍照；然后，將樣品放入恒溫恒濕試驗箱箱中，設置溫度箱的高溫、低溫值及各自保持的時間、變溫的時間、周期數(shù)。
 
比如高溫70 °C下保持2小時，然后從70 °C半小時內(nèi)降到低溫-20 °C，保持2小時，再從-20 °C半小時內(nèi)升溫到70 °C。如此循環(huán)，試驗20個循環(huán)。測完后，拿出樣品，檢查試驗后樣品的外觀、功能、性能等。
如發(fā)現(xiàn)樣品跟試驗前相比無明顯變化，或者變化在所定的標準范圍之類，則表示試驗樣品的抗高低溫循環(huán)性能符合要求，否則為不符合。
電子電器產(chǎn)品的高低溫試驗分為高低溫存儲試驗和高低溫運行試驗。高低溫存儲是產(chǎn)品不上電，在非工作狀態(tài)下進行試驗。高低溫運行是給產(chǎn)品供電，在產(chǎn)品工作狀態(tài)下進行試驗。
 
高溫試驗：
此試驗中試件處于高溫空氣中，但不受到陽光直接照射。高溫試驗針對高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動機等熱源處儲藏或使用產(chǎn)品的情形。僅當太陽輻射試驗不能檢驗高溫效應時才進行這項試驗。高溫試驗的目的是檢驗在高溫環(huán)境中儲藏或使用的性能。高溫試驗的目的是確定軍民用設備在常溫條件下儲存和工作的適應性。
 
高溫試驗參考標準：
GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，EIA-364-17
 
主要技術參數(shù)（恒溫恒濕試驗箱標箱）： 

內(nèi)箱尺寸（D*W*H）：100*100*100cm
箱體內(nèi)容積：1000L
溫度范圍：-70℃～150℃
濕度范圍：百分之25～百分之95RH
升溫速率：-70℃～150℃：3.5℃/min（30kg鋁錠）； 
降溫速率：+150℃～-70℃：1.5℃/min（30kg鋁錠）；
較大電熱負載：(60℃，百分之95RH)，2000W
 
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