可靠性試驗(yàn)是為了確定已通過可靠性鑒定試驗(yàn)而轉(zhuǎn)入批量生產(chǎn)的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下是否達(dá)到規(guī)定可靠性要求，驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性是否隨批量生產(chǎn)期間工藝，工裝，工作流程，零部件質(zhì)量等因素的變化而降低。只有經(jīng)過這些，產(chǎn)品性能才是可以信任的，產(chǎn)品的質(zhì)量才是過硬的。
 
可靠性檢測
一、機(jī)械完整性試驗(yàn)項(xiàng)目
1、機(jī)械沖擊：確定光電子器件是否能適用在需經(jīng)受中等嚴(yán)酷程度沖擊的電子設(shè)備中。沖擊可能是裝卸、運(yùn)輸或現(xiàn)場使用過程中突然受力或劇烈振動(dòng)所產(chǎn)生的。
2、變頻振動(dòng)：確定在規(guī)范頻率范圍內(nèi)振動(dòng)對光電子器件各部件的影響。
3、熱沖擊：確定光電子器件在遭受到溫度劇變時(shí)的抵抗能力和產(chǎn)生的作用。
4、插拔耐久性：確定光電子器件光纖連接器的插入和拔出，光功率、損耗和反射等參數(shù)是否滿足重復(fù)性要求。
5、存儲(chǔ)試驗(yàn)：確定光電子器件能否經(jīng)受高溫和低溫下運(yùn)輸和儲(chǔ)存。
6、溫度循環(huán)：確定光電子器件承受很高溫度和很低溫度的能力，以及很高溫度和很低溫度交替變化對光電子器件的影響。
7、恒定濕熱：確定密封和非密封光電子器件能否同時(shí)承受規(guī)定的溫度和濕度。
8、高溫壽命：確定光電子器件高溫加速老化失效機(jī)理和工作壽命。

 
二、加速老化試驗(yàn)
在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅(qū)動(dòng)電流進(jìn)行加速老化。依據(jù)試驗(yàn)的結(jié)果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，并可對光電子器件工作條件進(jìn)行調(diào)整和對可靠性進(jìn)行計(jì)算。
1、高溫加速老化：加速老化過程中的基本環(huán)境應(yīng)力式高溫。在實(shí)驗(yàn)過程中，應(yīng)定期監(jiān)測選定的參數(shù)，直到退化超過壽命終止為止。
2、恒溫試驗(yàn)：恒溫試驗(yàn)與高溫運(yùn)行試驗(yàn)類似，應(yīng)規(guī)定恒溫試驗(yàn)樣品數(shù)量和允許失效數(shù)。
3、變溫試驗(yàn)：變化溫度的高溫加速老化試驗(yàn)是定期按順序逐步升高溫度（例如，60℃、85℃和100℃）
4、溫度循環(huán)：除了作為環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)需要對光電子器件進(jìn)行溫度循環(huán)外，溫度循環(huán)還可以對管電子器件進(jìn)行加速老化。溫度循環(huán)的加速老化目的一般不是為了引起特定的性能參數(shù)的退化，而是為了提供封裝在組件里的光路長期機(jī)械穩(wěn)定性的附加說明。
 
三、物理特性測試項(xiàng)目
1、內(nèi)部水汽：確認(rèn)在金屬或陶瓷封裝的光電子器材內(nèi)部氣體中水汽含量。
2、密封性：確認(rèn)具有內(nèi)空腔的光電子器材封裝的氣密性。
3、ESD闊值：確認(rèn)光電子器材受靜電放電效果所造成損害和退化的靈敏度和敏銳性。
4、可燃性：確認(rèn)光電子器材所運(yùn)用資料的可燃性。
5、剪切力：確認(rèn)光電子器材的芯片和無源器材安裝在管座或其他基片上運(yùn)用資料和工藝的完整性。
6、可焊性：確認(rèn)需要焊連的光電子器材引線（直徑小于30175mm的引線，以及截面積適當(dāng)?shù)谋馄揭€）的可焊性。
7、引線鍵合強(qiáng)度：確認(rèn)光電子器材選用低溫焊、熱壓焊、超聲焊等技能的引線鍵合強(qiáng)度。
 
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